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VIEW MicroLine 1000自动化关键尺寸测量系统
■测量范围(XYZ)：100x 100x 175 mm■测量范围(XYZ)：200x 200x 175 mm■测量范围(XYZ)：300x 300x 145 mm备注：参考价格，具体请联系并合同约定
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2023-08-18 |
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VIEW Pinnacle 250
VIEW Pinnacle 250影像测量仪有着非凡的精度和生产率，优异的MTBF性能，以及在同类型自动测量系统中z低的购置成本。其独特的可编程多色环形灯(PRL)选项运用红、绿、蓝、白LED照明，可轻松应对z苛刻的应用。z新型的直
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2023-08-18 |
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QL-20™轮廓投影仪
QL-20™轮廓投影仪彰显卓越价值。超过系统影像面积两倍的14"屏幕，给您带来QL-20理念，适用于所有检测应用。真正的远心设计造就完全修正的影像、可靠的影像精度以及在聚焦时保持不变的影像尺寸。射镜保持稳定的工作
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2023-05-25 |
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美国进口VIEW Benchmark XLT影像仪
XLT拥有从900毫米X1500毫米到1500毫米X2000毫米的延伸行程范围，可以测量大面积组件和多个小组件的组合群体。其先进的光学,照明,以及图像处理功能使XLT成为世界一流的计量系统. 移动桥式设计功能为取放产品提供了一
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2023-05-25 |
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美国进口新机VIEW Benchmark 624影像测量仪
VIEW Benchmark 624 是 QVI旗下一款大容量式全自动三轴尺寸测量系统. VIEW Benchmark 624 的移动桥式结构和光学可使被测组件始终保持静止状态X,Y,Z行程 (mm)：624 x 624 x 150，0.5 μm 选项：624 x 624 x 200 X,Y,Z
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2023-04-27 |
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新机Pinnacle+Plus影像仪
VIEW Pinnacle+Plus将Pinnacle的性能提升到了下一个等级 Pinnacle+Plus拥有坚硬的花岗岩支撑结构和高性能的Z轴移动组件，使测量微电子零件和组件时产生尽可能低的不确定性. z先进的线性马达控制技术造就了运行速度z
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2023-04-27 |
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VIEW BenchMark 450影像测量仪
BenchMark 450 主要技术参数XY 精度:E2=(2.5+5L/1000)微米Z 精度:E1=(2.0+8L/1000)微米 （ 带TTL激光和可选5倍镜头） 英制单位 公制单位 测量范围 18" X18"X6" 450x450x150毫米 尺寸 48" X45"X67" 1210x1140
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2023-04-27 |
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VIEW BenchMark 250
BenchMark 250 主要技术参数XY 精度:E2=(1.8+6L/1000)微米(E2=(1.0+6L/1000)微米 需高分辨率光栅尺)Z精度:E1=(2.0+5L/1000)微米(E1=(1.2+5L/1000)微米 TTL激光和5倍镜头) 英制单位 公制单位 测量范围 12" X6"X6" 300
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2023-04-27 |
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